ミリテスラmTやガウスGなどの単位で表される表面磁束密度は、同じ磁石を同じ環境で同じ者が測っても、計測器のメーカー・機種・プローブ（ホール素子）の精度・計測箇所・室内温度に依り計測値が異なります。そのため製品仕様に示す表記仕様値と、実測値に相違があるのが通常です。測定方法と環境はメーカーによって異なり、検査規格基準は業界統一されていません。そのため表面磁束密度を製品仕様上の特性値として規格明記されたものに、絶対的な信頼性はありません。製品仕様値として表面磁束密度を規格とする場合は、以下の計測環境を明確にしなければなりません。

計測環境条件

• ①計測器のメーカーと機種とホール素子仕様
• ②計測箇所とギャップ（空間・密着性）
• ③環境温度

磁石または磁気応用製品の設計に、表面磁束密度を重視して設計する場合は、ご自身の所有する計測器と環境下で実測してください。一般的に参考値と実測値の相関を取りながら設計します。